Dlaczego tak
Testowanie pojedynczo każdego modułu w tym samym gnieździe izoluje usterkę: błędy wystąpią tylko z modułem uszkodzonym, a ten sam slot wyklucza wpływ różnych gniazd. Zamiana gniazd przy obu modułach naraz nadal daje błędy i nie wskazuje winnego. Zmiana napięcia może ukryć objawy lub uszkodzić pamięć, a test w działającym systemie nie obejmuje zajętych przez system obszarów.